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Structural and optical characterization of GaAs and InGaAs thin films deposited by RF magnetron sputtering

Roberto Bernal Correa

ROBERTO ANDRES BERNAL CORREA, "Structural and optical characterization of GaAs and InGaAs thin films deposited by RF magnetron sputtering”. En: Países Bajos Optik ISSN: 0030-4026 ed: Elsevier GmbH v.145 fasc.N/A p.608 - 616, 2017, DOI: doi.org/10.1016/j.ijleo.2017.08.042